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两箱式VS三箱式冷热冲击箱结构大不同,你选对了吗?

日期:2025-07-21   作者:   浏览:

在可靠性测试中,冷热冲击试验被誉为“快速致命测试”,可在短时间内暴露产品潜在缺陷,如焊点裂纹、结构开裂、封装失效等。

而设备结构,是冷热冲击试验效果的核心变量。目前行业中常见结构有两种:

 

·两箱式冷热冲击试验箱

·三箱式冷热冲击试验箱

 

许多客户在设备选型时都会问:

“三箱是不是更先进?”
“标准有没有规定转换时间?”
“我这个产品到底适合哪一种?”

 

本文将从标准定义、设备结构、技术参数与应用行业四个方面,全面解读这两种结构的差异,并结合 国际标准内容(GB/T、IEC、MIL-STD)给出选型建议。

 

 一、冷热冲击试验的标准定义

冷热冲击试验属于《GB/T 2423.22-2012》《IEC 60068-2-14:2009》所定义的温度变化试验(Test N),分为:

 

Test Na:规定转换时间的快速温度变化

Test Nb:规定变化速率的温度变化

 

其核心技术动作包括:

·高温/低温两个温区;

·快速完成温区之间的切换(transfer);

·在各温区保持足够时间(exposure)以完成应力加载。

 

二、标准对转换时间 t₂ 与暴露时间 t₁ 的定义

·暴露时间(t₁):

根据 IEC 60068-2-14:2009 第7.2.3节:
“暴露时间 t₁ 应结合试样热容量设定,推荐值包括 10min、30min、1h、2h、3h。”
一般工业产品以 10~30 分钟较为常见。

·转换时间(t₂):

IEC 60068-2-14:2009 第7.2.5节定义:
“t₂ 指试样从一个温区转移至另一个温区(适用于两箱结构),或指单腔中热/冷气流切换,移动以及在室温下停留的时间。”
标准建议t₂ 不应超过 3min。

 

**MIL-STD-883H(Method 1010)**对军工微电子器件测试提出的专用要求:“转换时间 ≤10s”。但若提篮尺寸过大,转换时间可能会超10s。

 

三、两种结构工作原理解析

 

✅ 两箱式冷热冲击试验箱结构

试样托盘在高温与低温两个腔体间上下或左右移动,实现冷热转换。

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✅ 两箱式冷热冲击试验箱参数:

 

规格型号

KTM-MTSA

KTM-MTSB

KTM-MTSC

KTM-MTSD

KTM-MTSG

内箱尺寸W*D*H(mm)

400*400*300

500*500*300

600*600*300

800*800*400

900*1500*850

温度范围(℃)

-40/-55/-65~+150

温度偏差(℃)

≤±2.0

温度均匀度(℃)

≤2.0

温度波动度(℃)

≤±0.5

复归时间(min)

≤5

预热时间(min)

RT~+180℃ ≤50

预冷时间(min)

RT~-70℃ ≤70

控制系统

TEMAK自研控制器(型号:TMK_TC1)

通讯功能

RS232 & 485  CAN  LAN

 

✅ 三箱式冷热冲击试验箱结构

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✅ 三箱式冷热冲击试验箱参数

 

规格型号

KTM-TSA

KTM-TSB

KTM-TSC

KTM-TSD

内箱尺寸W*D*H(mm)

500*400*400

600*500*500

700*600*600

800*700*600

温度范围(℃)

-40/-55/-65~+150

温度偏差(℃)

≤±2.0

温度均匀度(℃)

≤2.0

温度波动度(℃)

≤±0.5

复归时间(min)

≤5

预热时间(min)

RT~+180℃ ≤50

预冷时间(min)

RT~-70℃ ≤70

控制系统

TEMAK自研控制器(型号:TMK_TSK1)

通讯功能

RS232 & 485  CAN  LAN

 

 

 四、结构技术对比表

对比项

两箱式冷热冲击试验箱

三箱式冷热冲击试验箱

样品移动

是(上下或左右切换)

否(固定)

温度转换方式

机械转移

气流切换

温度转换时间

较三箱式更快

符合标准要求

复归时间

更快

符合标准要求

不会产生机械应力

×

进行测试整合

×

量测待测物表面温度

送电测试

售价

 

 五、实际选型建议

应用领域

推荐结构

理由

消费电子产品

两箱式

产品批量大、测试频率高;

电源模块

两箱式

体积大、结构稳固

精密芯片(BGA)

三箱式

不能移动、需快变温冲击

航空电子器件

三箱式

精度高,热应力敏感

封装失效分析

三箱式

精度与重复性要求高

 

标准未强制规定必须选用“两箱”或“三箱”结构,但所有结构都必须满足测试目标:快速温变 + 稳定暴露 + 控温精度。

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