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芯动力·芯品质 | 泰美科邀您相约2025电子半导体创新发展大会

日期:2025-10-27   作者:   浏览:

创新驱动 芯耀未来!泰美科将重磅亮相 2025 CPCA Show Plus 电子半导体创新发展大会。我们已整装待发,将在现场为您展示在严苛环境下保障芯片与电子元器件可靠性的尖端测试解决方案。


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在本次展会上,我们将重点展出两款在半导体及高端PCB制造领域备受瞩目的核心设备。


两箱式冷热冲击试验箱

 温度范围:-65℃~+150℃

温度均匀度:±2℃;

温度波动度:≤±0.5℃;

复归时间:≤5min;

预热时间:RT~+180℃≤50min;

预冷时间:RT~-70℃≤70min;
控制器:TEMAK自主研发控制器

 

 

SIR表面绝缘电阻量测系统

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系统配置:

外置计算机,独立液晶显示器,1台主控计算机,1~4 台测试仪;

电阻测量精度:

测试电压为5V时:1x106-1x1010Ω≤±5%

1x1010-1x1011Ω≤±10%

测试电压为50V时:1x1011-1x1012Ω≤土15%

测试电压为500V时:1x1012-1x1013Ω≤±20%

 

展位

展位号:6E13-3、6E13-5

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期待与您相约鹏城,携手以“测试”之力,驱动“创新”之芯,共赢AI时代!

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