光储与半导体行业
光储与半导体产品长期服役于沙漠、高原、沿海等复杂环境，面临极端温度、高湿、盐雾、振动等多重应力挑战。可靠性试验已成为产品研发定型、量产筛选及市场准入的关键环节，直接影响设备寿命、系统安全与能源转换效率。
光储领域：光伏组件、储能变流器（PCS）、逆变器、BMS、电池模组/电池簇、预制舱式储能系统、储能热管理系统。
半导体领域：晶圆（逻辑/存储/功率/射频/MEMS）、封装器件（BGA/QFN/SOP等）、功率模组（IGBT/SiC/GaN）、多芯片模组。
研发阶段（工程验证EVT/DVT）：摸底试验，快速找出设计缺陷，迭代修改。
定型/型式试验：全套环境可靠性，用于认证、客户准入。
量产监控（PVT/抽检）：批次一致性验证，监控工艺变更带来的可靠性风险。
筛选试验（ESS环境应力筛选）：出厂前剔除早期失效品，不评估寿命，只筛次品。
积架型恒温恒湿试验箱
冷热冲击试验箱
步入式环境试验室
盐雾试验箱
三综合试验箱
气候环境：高低温工作/存储、温度循环、交变湿热、凝露
机械环境：振动、冲击、跌落、IP防护
腐蚀环境：盐雾、气体腐蚀、高海拔适应性
安全性能：过充/过放、短路、热失控、绝缘耐压
综合应力：HALT/HASS
加速环境应力：温度循环（TC）、温湿度偏置（THB）、uHAST/BHAST
加速寿命模拟：高温工作寿命（HTOL）、高温存储寿命（HTSL）
封装组装完整性：引线键合强度、芯片剪切、可焊性
预处理：湿度敏感等级（MSL）分级、回流焊模拟
IEC 61215 / IEC 61730：光伏组件设计鉴定与安全
GB/T 34133：储能变流器检测技术规程
GB/T 36276：电力储能用锂离子电池
GB/T 44026：预制舱式锂离子电池储能系统技术规范
GB/T 2423系列：电工电子产品环境试验基础方法
JESD22系列：JESD22-A104（温度循环）、A110（THB/BHAST）、A118（uHAST）、A103（HTSL）、A108（HTOL）
JESD47：集成电路可靠性鉴定试验
J-STD-020：非气密表贴器件预处理标准
AEC-Q100/Q101：车规级芯片可靠性验证
GB/T 4937系列：半导体器件机械和气候试验方法
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